一种天馈线测试和频谱分析装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种天馈线测试和频谱分析装置，包括壳体，壳体的一侧外壁上通过铰链转动连接有顶盖，壳体的顶部外壁上开有水平结构分布的两个安装槽，且安装槽的内部分别卡接有天馈线测试装置和频谱分析装置，壳体的顶部外壁上开有收纳槽，且收纳槽的内部转动连接有提手，壳体的顶部外壁上开有呈水平结构分布的插槽，且插槽的内部插接有散热扇，插槽的侧面内壁上开有滑槽，散热扇的侧面外壁上焊接有滑块，且散热扇通过滑块滑动连接在滑槽的内部。本实用新型的壳体和顶盖能够同时对天馈线测试和频谱分析装置进行收纳和固定，使得天馈线测试和频谱分析装置变为一体，使得操作人员在携带和使用时更加方便。
基本信息
专利标题 ：
一种天馈线测试和频谱分析装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922380537.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-26
授权号 ：
CN211741410U
授权日 ：
2020-10-23
发明人 ：
金纯
申请人 ：
杭州杰电电子有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市萧山区闻堰街道五金工业园区
代理机构 ：
北京沁优知识产权代理有限公司
代理人 ：
林捷达
优先权 ：
CN201922380537.6
主分类号 ：
G01R23/16
IPC分类号 ：
G01R23/16 G01R29/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R23/00
测量频率的装置；频谱分析装置
G01R23/16
谱分析；傅立叶分析
法律状态
2020-10-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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