一种PIN针测试工装
授权
摘要
本实用新型公开了一种PIN针测试工装，包括上探针底座部分、下探针底座部分、PLC、气缸、打点器及主架，主架为两个空心长方体组合，整体呈L型，主架的气缸前挡板位于L型主架空旷台面一侧，气缸前挡板下部开窗，上探针底座部分位于气缸前挡板上部未开窗位置，下探针底座部分位于台面上并与上探针底座部分配合，打点器位于下探针底座部分侧面，在上、下探针底座部分上设置逐级导向槽位，PLC控制设备运行，气缸作为动力来源，在产品完全接触到测试探针前具有逐级导向的功能，有效避免气缸带动测试探针下压过程中因对位不准造成的产品PIN针与测试探针错位的问题，测试完成后设备能根据产品的好坏进行打点控制，有效的防止不良品的混装。
基本信息
专利标题 ：
一种PIN针测试工装
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922381252.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-26
授权号 ：
CN212083579U
授权日 ：
2020-12-04
发明人 ：
曹文波
申请人 ：
四川肯洋科技有限责任公司
申请人地址 ：
四川省绵阳市游仙区绵山路64号
代理机构 ：
成都为知盾专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李汉强
优先权 ：
CN201922381252.4
主分类号 ：
G01R31/01
IPC分类号 ：
G01R31/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
G01R31/01
对相似的物品依次进行测试，例如在成批生产中的“过端—不过端”测试；当物体通过测试台时对物体进行测试
法律状态
2020-12-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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