一种广角探测的紫外线探测器
授权
摘要
本实用新型公开了一种广角探测的紫外线探测器，属于紫外线探测器技术领域，目的在于提供一种广角探测的紫外线探测器，解决现有紫外线探测器探测范围较小的问题。其包括探测器外壳，所述探测器外壳的开口端上连接有透紫光窗，所述透紫光窗为向外凸出的曲面结构，所述探测器外壳内安装有紫外光电管，所述紫外光电管的阴极突出探测器外壳的开口端截面并位于透紫光窗与探测器外壳的开口端截面围合成的空间内。本实用新型适用于紫外线探测器。
基本信息
专利标题 ：
一种广角探测的紫外线探测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922383046.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-26
授权号 ：
CN211291742U
授权日 ：
2020-08-18
发明人 ：
马建华李继良李慧海王春林曾泸
申请人 ：
四川天微电子股份有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市双流区公兴街道物联一路233号
代理机构 ：
成都聚蓉众享知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘艳均
优先权 ：
CN201922383046.7
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42 G01J1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2020-08-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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