一种磁环测试机
授权
摘要
本实用新型公开了一种磁环测试机，包括机架，所述机架上设置有上料机构与下料机构，所述上料机构与所述下料机构之间设置有移送板，所述移送板上设置有移送槽，所述移送板上设置有平移驱动机构，所述平移驱动机构上设置有挡板，所述移送槽上设置有第一通孔，所述第一通孔的下方设置有升降驱动机构，所述升降驱动机构上设置有测试杆，所述移送板的旁侧设置有固定座，所述固定座上设置有测试片，所述测试杆位于行程始端时，所述测试杆的顶端面位于所述移送槽底面的下方，所述测试杆位于行程末端时，所述测试杆与所述测试片相抵，本实用新型减少了人工劳动力，测试效率更高，并且有效避免了漏测等问题，提高测试质量。
基本信息
专利标题 ：
一种磁环测试机
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922396043.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-26
授权号 ：
CN211697989U
授权日 ：
2020-10-16
发明人 ：
蔡明星
申请人 ：
佛山市明富兴金属材料有限公司
申请人地址 ：
广东省佛山市禅城区张槎大楼围工业区三座五楼
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
谢泳祥
优先权 ：
CN201922396043.7
主分类号 ：
G01R27/26
IPC分类号 ：
G01R27/26 G01R31/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量
法律状态
2020-10-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
