用于研究大数量低活度钴源对辐照剂量率影响的试验装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种用于研究大数量低活度钴源对辐照剂量率影响的试验装置,包括取源单元、换源单元,取源单元和换源单元可拆卸组合安装,取源单元包括调节伸缩杆、模块提取器,模块提取器安装在调节伸缩杆的下部,换源单元包括调节杆、源棒夹取器及直角钩,调节杆滑动安装在取源单元调节伸缩杆上,源棒夹取器及直角钩安装在调节伸缩杆的下部。本实用新型设计科学合理、结构简单,可以根据试验的需要进行机动的调节,有效节省布源时间,提高布源效率,不仅可以确保试验高效进行,还可以减少作业人员的操作时间,避免多次进行工具更换而长时间操作对身体造成健康威胁,在研究大数量低活度钴源对辐照剂量率影响的实验中使用效果好,适用于推广使用。
基本信息
专利标题 :
用于研究大数量低活度钴源对辐照剂量率影响的试验装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922398925.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-27
授权号 :
CN211652604U
授权日 :
2020-10-09
发明人 :
潘俊代云鹏张咏春
申请人 :
天津金鹏源辐照技术有限公司
申请人地址 :
天津市滨海新区天津自贸试验区(空港经济区)中环南路11号
代理机构 :
天津盛理知识产权代理有限公司
代理人 :
刘丹舟
优先权 :
CN201922398925.7
主分类号 :
G01N23/00
IPC分类号 :
G01N23/00 G01N22/00 G01N21/00 G01N1/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
法律状态
2020-10-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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