一种遮光板调节的检测装置
授权
摘要

本实用新型涉及一种遮光板调节的检测装置,包括若干传送带装置,相邻两个所述传送带装置之间设置有检测空间,所述检测空间处安装有检测结构,所述检测结构包括框架、照明部、拍照部及两个遮挡板,所述照明部及所述拍照部均位于所述框架内部,所述拍照部位于所述传送带装置平台上方,所述照明部位于所述传送带装置平台下方,且所述照明部位于所述拍照部的正下方,所述遮挡板安装在所述框架外部两侧,所述遮挡板位于所述拍照部的上方,其特征在于:所述框架上穿设有调节组件,所述调节组件带动所述遮挡板运动。本实用新型涉及用于硅片检测装置的技术领域。本实用新型具有提高了检测装置的精确度的效果。

基本信息
专利标题 :
一种遮光板调节的检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922415603.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-28
授权号 :
CN211150515U
授权日 :
2020-07-31
发明人 :
郭新民史树伟姜利国郭华明
申请人 :
溧阳市腾新机电设备有限公司
申请人地址 :
江苏省常州市溧阳市戴埠镇横一路1号1幢
代理机构 :
北京维正专利代理有限公司
代理人 :
盛天亮
优先权 :
CN201922415603.9
主分类号 :
H01L21/66
IPC分类号 :
H01L21/66  H01L31/18  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/66
在制造或处理过程中的测试或测量
法律状态
2020-07-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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