一种用于清洁反射光栅尺的清洁装置
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摘要

本实用新型公开了一种用于清洁反射光栅尺的清洁装置,包括光栅尺读头、光栅尺主尺和基座,所述光栅尺主尺固定设置在所述基座的表面,所述光栅尺读头与所述光栅尺主尺之间设有间距,所述光栅尺读头朝向所述光栅尺主尺的一面设有清洁喷口和光栅传感器,所述清洁喷口的输入端通过管道连接有喷头,所述光栅传感器外接入电源信号线。本实用新型通过光栅叠栅条纹原理测量位移,在测量位移的过程中通过喷头、清洁喷口对光栅尺主尺所对应的移动位移进行清洁,其清洁效果明显,不会因为光栅尺的洁净度影响光栅尺的误读,通过本实用新型对光栅尺进行清洁,可定时为光栅尺清洁,对光栅尺信号保持良好,进而增加光栅尺的使用寿命,降低维护成本。

基本信息
专利标题 :
一种用于清洁反射光栅尺的清洁装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922422429.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-30
授权号 :
CN211696252U
授权日 :
2020-10-16
发明人 :
巫孟良李力强李康辉吴海明
申请人 :
广东万濠精密仪器股份有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市大朗镇象山工业园象山中路39号
代理机构 :
广州市一新专利商标事务所有限公司
代理人 :
刘兴耿
优先权 :
CN201922422429.0
主分类号 :
G01B11/02
IPC分类号 :
G01B11/02  B08B5/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2020-10-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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