一种垂直测量装置
授权
摘要

本实用新型提供了一种垂直测量装置,包括装置外壳和固定杆,所述装置外壳包括第一口和第二口,所述第一口和所述第二口相连通,所述第二口面积小于所述第一口面积,所述固定杆能穿过所述第一口和第二口,所述装置外壳上还设置有第一凸台,所述第一凸台与所述第二口设置在所述装置外壳同一面,所述第一凸台上设置有连接装置,所述连接装置与所述固定杆相配合。当所述固定杆插入固定面时,所述连接装置与所述固定杆相配合,增大连接面积,适用于粗糙表面和不同材质的测量面,使所述垂直测量装置与所述测量面的接触更加紧密,避免了由于固定不稳固而导致测量结果不准确的问题。

基本信息
专利标题 :
一种垂直测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922433018.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-30
授权号 :
CN211291304U
授权日 :
2020-08-18
发明人 :
李立威刘丽高玉春
申请人 :
北京华信恒泰建设工程有限公司
申请人地址 :
北京市房山区良乡凯旋大街建设路18号—A1376
代理机构 :
北京沁优知识产权代理有限公司
代理人 :
郭娜
优先权 :
CN201922433018.1
主分类号 :
G01B5/245
IPC分类号 :
G01B5/245  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/245
••用于检测垂直度
法律状态
2020-08-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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