一种电子器件熔封玻璃波形测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种电子器件熔封玻璃波形测量装置，包括机箱主体和高清摄像头，所述机箱主体下端四角处设置有支脚，所述支脚下端设置有防滑套，所述机箱主体上端一角处设置有启动按钮，所述机箱主体一侧中部设置有波形显示屏，所述波形显示屏远离所述启动按钮一侧设置有旋钮，所述旋钮下端设置有按键，所述机箱主体远离所述启动按钮一侧设置有物品放置区，所述物品放置区上端设置有伸缩杆。有益效果在于：本实用新型通过设置高清摄像头，使波形测量装置精确测量熔封玻璃的波形，保证了产品质量，同时保证了在使用过程中的安全性，同时，通过设置集成电路板，使测量速度大大加快，提高了工作效率，降低了劳动时间。
基本信息
专利标题 ：
一种电子器件熔封玻璃波形测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922441686.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-30
授权号 ：
CN211291366U
授权日 ：
2020-08-18
发明人 ：
张建军
申请人 ：
江苏建达恩电子科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省宿迁市泗阳经济开发区(东区)
代理机构 ：
苏州欣达共创专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
周升铭
优先权 ：
CN201922441686.9
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24 G01N21/84
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2020-08-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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