一种超低粉尘测量装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种超低粉尘测量装置，包括密封部，其设置于前、后壳体衔接位置处；包括前向测量区，其设置于前壳体内腔，并且使由激光器组件发出的光束经过测量区的颗粒物产生前向散射光束；还包括锥透镜，其设置于前、后壳体内部的相接位置处，并且使射入的前向散射光束转变成平行光束；还包括反射镜，其使射入的平行光束反射之后再垂直射出。本实用新型将以往粉尘测量装置测量区惯用配置的球面镜优化为采用锥透镜，有利于提升测量区的准确度；同时，通过使测量区设置在装置自身封闭部位的前段而形成前向散射的构造，不但使测量区域在免受外界干扰的状态下有利于进一步提升测量的准确度，而且还有利于提升装置整体测量的灵敏度。
基本信息
专利标题 ：
一种超低粉尘测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922444670.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-27
授权号 ：
CN211477987U
授权日 ：
2020-09-11
发明人 ：
田霖黄风光史峰李秉杰孟浩
申请人 ：
民政部一零一研究所
申请人地址 ：
北京市丰台区南四环西路188号十区33号楼
代理机构 ：
广东腾锐律师事务所
代理人 ：
莫建坤
优先权 ：
CN201922444670.3
主分类号 ：
G01N15/06
IPC分类号 ：
G01N15/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/06
测试悬浮颗粒的浓度
法律状态
2020-09-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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