一种基于MCU内部集成运放检测短路的系统及电池包
授权
摘要
本实用新型涉及电池包技术领域，具体公开了一种基于MCU内部集成运放检测短路的系统及电池包，包括MCU和采样电阻，所述MCU内部集成有运算放大器；所述运算放大器的反相输入端连接采样电阻，运算放大器的同相输入端连接第一电阻和第二电阻，所述第一电阻的另一端连接VDD，所述第二电阻的另一端连接SGND；所述MCU的第一引脚连接SGND；本实用新型采用MCU内部集成运算放大器，可通过软件配置后作为比较器，能够将分立运算放大器省略掉，明显降低了产品的开发成本，同时能够获得同样效果的短路检测信号。
基本信息
专利标题 ：
一种基于MCU内部集成运放检测短路的系统及电池包
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922447020.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-30
授权号 ：
CN211603471U
授权日 ：
2020-09-29
发明人 ：
周内阳任素云戴清明尹志明
申请人 ：
惠州市蓝微电子有限公司
申请人地址 ：
广东省惠州市仲恺高新区和畅五路西101号
代理机构 ：
广州粤高专利商标代理有限公司
代理人 ：
谭映华
优先权 ：
CN201922447020.4
主分类号 ：
G01R31/382
IPC分类号 ：
G01R31/382
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/382
••用于监视电池或累加器变量的装置，例如SoC
法律状态
2020-09-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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