太赫兹近场显微镜的太赫兹脉冲束引出机构
授权
摘要
本实用新型公开了一种太赫兹近场显微镜的太赫兹脉冲束引出机构，适于并且匹配各种型号的原子力显微镜以检测一待测样品，所述太赫兹近场显微镜的太赫兹脉冲束引出机构包括一90°平面镜、一AFM探针、一第一平面镜，所述AFM探针用于检测置于一AFM样品台的所述待测样品，所述第一平面镜置于所述90°平面镜的靠近AFM样品台的一侧。本实用新型专利申请公开的太赫兹近场显微镜的太赫兹脉冲束引出机构，适用并且匹配多种成熟的商业化AFM，抛物面镜需针对AFM进行定制，在保证将入射太赫兹脉冲束聚焦到AFM探针之上及收集经探针和样品散射的太赫兹脉冲束的前提下不与AFM结构产生冲突。
基本信息
专利标题 ：
太赫兹近场显微镜的太赫兹脉冲束引出机构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922452530.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-30
授权号 ：
CN211785622U
授权日 ：
2020-10-27
发明人 ：
王文杰
申请人 ：
仪晟科学仪器（嘉兴）有限公司
申请人地址 ：
浙江省嘉兴市南湖区亚太路906号（中科院三期）17号楼2楼203室
代理机构 ：
嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张抗震
优先权 ：
CN201922452530.0
主分类号 ：
G01Q60/18
IPC分类号 ：
G01Q60/18 G01Q30/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01Q
扫描探针技术或设备；扫描探针技术的应用，例如，扫描探针显微术
G01Q60/00
特殊类型的SPM或其设备；其基本组成
G01Q60/18
SNOM或其设备，例如，SNOM探针
法律状态
2020-10-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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