DDR测试主板和DDR测试平台
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要
本实用新型公开了一种DDR测试主板和DDR测试平台,其中DDR测试主板包括并联设置的多个测试模块;测试模块包括控制单元、指示单元、按钮单元和接口单元;接口单元,用于连接待测试的DDR芯片;按钮单元,用于接收上电操作;控制单元,与外部电源相连接,用于接收外部电源传输的供电电源,并在接收到上电操作时,导通与DDR芯片的连接,对DDR芯片进行测试,发送指示指令给指示单元;指示单元,用于根据指示指令指示不同的测试结果。通过本实用新型的DDR测试主板,测试人员不但可以同时对多个DDR芯片进行测试,而且能够通过指示灯直观快速地获知测试结果。因此,本实用新型相比现有技术大大提高了测试效率。
基本信息
专利标题 :
DDR测试主板和DDR测试平台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922458959.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-30
授权号 :
CN211826353U
授权日 :
2020-10-30
发明人 :
刘冲李振华
申请人 :
深圳佰维存储科技股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区桃源街道同富裕工业城4号厂房1楼、2楼、4楼、5楼
代理机构 :
深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
隆毅
优先权 :
CN201922458959.0
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-14 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01R 31/28
变更事项 : 专利权人
变更前 : 深圳佰维存储科技股份有限公司
变更后 : 深圳佰维存储科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市南山区桃源街道同富裕工业城4号厂房1楼、2楼、4楼、5楼
变更后 : 518000 广东省深圳市南山区桃源街道平山社区留仙大道1213号众冠红花岭工业南区2区4、8栋1层-3层及4栋4层
变更事项 : 专利权人
变更前 : 深圳佰维存储科技股份有限公司
变更后 : 深圳佰维存储科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市南山区桃源街道同富裕工业城4号厂房1楼、2楼、4楼、5楼
变更后 : 518000 广东省深圳市南山区桃源街道平山社区留仙大道1213号众冠红花岭工业南区2区4、8栋1层-3层及4栋4层
2020-10-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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