一种示波器探头校准装置
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摘要

本实用新型公开了一种示波器探头校准装置,包括手柄,所述手柄的一端固定设有连接头,所述连接头的外侧设有套环,所述套环的内侧设有多个滚珠,且所述套环与连接头通过滚珠活动连接,所述套环远离手柄的一侧固定设有四个夹条。本实用新型通过四个夹条为每两个分别设置在示波器探头的底部以及顶部,从而将手柄以及探头进行固定,手柄转动时通过连接头带动校准起子转动,连接头通过滚珠在套环的内侧转动,对探头进行校准处理,使用者一手校准的同时,另一手可操作示波器进行实时调节,校准装置具有探头固定处理,对探头的校准工作以及操作示波器的步骤可同时进行,有效地提高校准效率。

基本信息
专利标题 :
一种示波器探头校准装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922481265.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-31
授权号 :
CN211577409U
授权日 :
2020-09-25
发明人 :
邹德标
申请人 :
苏州德计仪器仪表有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中区长桥街道财智商务广场3幢1313室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201922481265.9
主分类号 :
G01R35/02
IPC分类号 :
G01R35/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
G01R35/02
辅助装置的测试或校准,例如根据规定的变换比、相位角或额定瓦数对仪表变压器进行测试或校准
法律状态
2020-09-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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