一种用于膜电极生产线中测量催化剂含量的装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种用于膜电极生产线中测量催化剂含量的装置，包括X射线荧光分析仪和轨道；其中，X射线荧光分析仪垂直安装于轨道上，可沿所述轨道移动；轨道与生产线中涂布机的传动辊筒平行。本实用新型的用于膜电极生产线中测量催化剂含量的装置通过在生产线中安装X射线荧光分析仪，精准地控制催化剂含量，达到最优化的含量标准。因此，实时测得催化剂含量可在线进行调整，避免不合格产品的产出，降低了生产成本，同时保证了膜电极性能的提高。
基本信息
专利标题 ：
一种用于膜电极生产线中测量催化剂含量的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922497463.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-31
授权号 ：
CN212989212U
授权日 ：
2021-04-16
发明人 ：
邹裕民
申请人 ：
上海济平新能源科技有限公司
申请人地址 ：
上海市嘉定区嘉松北路6988号1幢1层105室JT133
代理机构 ：
上海京沪专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
马强
优先权 ：
CN201922497463.4
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223 H01M8/1004
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2021-04-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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