本发明涉及一种能够改善触头的自身耐久性的下降，在处理高速信号方面具有优良的电子特性且能够延长使用寿命的具有薄型结构的测试插座及适用其的弹簧触头。本发明的测试插座包括多个弹簧触头，多个弹簧触头具有上部接触销(110)、与上部接触销(110)交叉组装而能够相互线性操作的下部接触销(120)、以及弹性支撑上部接触销(110)与下部接触销(120)的螺旋弹簧(130)；主板，形成有用于收容配置各弹簧触头(100)的多个收容孔(1111)，形成有分别具有比各收容孔(1111)的直径(d1)更小的直径(d2)的第一开口部(1113)，使得通过从各收容孔(1111)的上侧开口端突出且水平形成的台阶部(1112)支撑各上部接触销(110)；膜板，设于主板(1110)的下部并具有第二开口部(1121)，第二开口部(1121)形成在与各收容孔(1111)对应的位置，具有比收容孔(1111)的直径(d1)更小的直径(d3)且支撑各下部接触销(120)。