存储器装置和用于监测存储器装置的性能的方法
公开
摘要
本公开涉及用于检查非易失性存储器装置的读取阶段的方法，所述非易失性存储器装置包含至少一存储器单元阵列并且具有相关联的解码和感测电路系统和存储器控制器，所述方法包括：将至少内部块变量和已知模式存储于与存储器块相关联的虚设行中；执行所述虚设行的读取；将所述读取的结果与所述已知模式进行比较；基于所述比较的所述结果修整所述读取的参数和/或调换所使用的存储器块。
基本信息
专利标题 ：
存储器装置和用于监测存储器装置的性能的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114303200A
申请号 ：
CN201980096790.9
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2019-05-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
A·特罗亚A·蒙代洛
申请人 ：
美光科技公司
申请人地址 ：
美国爱达荷州
代理机构 ：
北京律盟知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
王龙
优先权 ：
CN201980096790.9
主分类号 ：
G11C29/16
IPC分类号 ：
G11C29/16 G11C16/34 G11C29/02 G11C29/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置
G11C29/14
控制逻辑的实现，例如，测试模式解码器
G11C29/16
用微程序控制单元，例如，状态机
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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