磁共振系统的磁场分布检测方法、磁共振系统及成像方法
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摘要
本发明涉及一种磁共振系统的磁场分布检测方法、磁共振成像方法及系统。所述磁共振系统的磁场分布检测方法包括：利用平面回波成像序列对参照体进行扫描，得到扫描k空间数据；对所述扫描k空间数据进行傅里叶变换后得到所述参照体的扫描场图；根据所述扫描场图，获取所述参照体中的多个被标记位置在相位编码方向上分别对应的位移；根据所述多个被标记位置分别在相位编码方向上的位移，确定空间场分布的球谐函数；根据所述球谐函数获得所述磁共振系统的磁场分布。
基本信息
专利标题 ：
磁共振系统的磁场分布检测方法、磁共振系统及成像方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113075598A
申请号 ：
CN202010005079.2
公开（公告）日 ：
2021-07-06
申请日 ：
2020-01-03
授权号 ：
CN113075598B
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
陈伟梁李博刘亮
申请人 ：
上海联影医疗科技股份有限公司
申请人地址 ：
上海市嘉定区城北路2258号
代理机构 ：
北京华进京联知识产权代理有限公司
代理人 ：
樊春燕
优先权 ：
CN202010005079.2
主分类号 ：
G01R33/24
IPC分类号 ：
G01R33/24 G01R33/3815 G01R33/385 A61B5/055
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/20
涉及磁共振
G01R33/24
用于测量磁场或磁通量的方向或大小
法律状态
2022-05-27 ：
授权
2021-07-23 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/24
申请日 : 20200103
申请日 : 20200103
2021-07-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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