一种塞曼调频提高微波电场强度测量信噪比的方法及装置
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摘要
本发明提供一种塞曼调频提高微波电场强度测量信噪比的方法及装置，方法包括：耦合光的频率锁在中间态和里德堡态1的共振跃迁上，微波频率锁在里德堡态1和里德堡态2的共振跃迁上，在基态和中间态的共振跃迁频率附近扫描探测光的频率，测量探测光透过原子池后的光谱，以获得里德堡电磁感应透明EIT的AT分裂信号的光谱；利用交流磁场调制样品原子能级的位置，对光谱进行频率调制；解调里德堡电磁感应透明EIT的AT分裂信号的光谱，得到EIT‑AT分裂光谱的色散形鉴频信号。本发明提供的方法及装置利用交变磁场调制原子能级，等效于对光谱进行频率调制，天然没有残余幅度的问题，同时实验系统也更加简单和方便。
基本信息
专利标题 ：
一种塞曼调频提高微波电场强度测量信噪比的方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111308228A
申请号 ：
CN202010041302.9
公开（公告）日 ：
2020-06-19
申请日 ：
2020-01-15
授权号 ：
CN111308228B
授权日 ：
2022-05-20
发明人 ：
贾凤东谢锋张剑王飞梅炅钟志萍
申请人 ：
中国科学院大学;清华大学
申请人地址 ：
北京市石景山区玉泉路(甲)19号
代理机构 ：
北京天悦专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
田明
优先权 ：
CN202010041302.9
主分类号 ：
G01R29/12
IPC分类号 ：
G01R29/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/12
静电场的测量
法律状态
2022-05-20 ：
授权
2020-07-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 29/12
申请日 : 20200115
申请日 : 20200115
2020-06-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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