光时域反射仪及光脉冲试验方法
授权
摘要
一种光时域反射仪，具备：存储部(20)，将对使用第1脉冲宽度W1测量到的与需连接的被测量光纤的连接点(DD)中的背向散射光等级(PZ(W1))加预先设定的参考距离DR下的使用大于第1脉冲宽度的第2脉冲宽度W2测量到的第2背向散射光等级(PR(W2))与预先设定的参考距离DR下的使用第1脉冲宽度测量到的第1背向散射光等级(PR(W1))的差分(ΔPR)而得的第3背向散射光等级(PZ(W2))，在进行试验之前与第2脉冲宽度建立对应关联而存储；及运算处理部(18)，为了进行试验而从存储部读出与从光源输出至被测量光纤的光脉冲的脉冲宽度对应的第2脉冲宽度下的第3背向散射光等级(PZ(W2))，并使用所读出的第3背向散射光等级(PZ(W2))求出被测量光纤中的传输损
基本信息
专利标题 ：
光时域反射仪及光脉冲试验方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111487034A
申请号 ：
CN202010065935.3
公开（公告）日 ：
2020-08-04
申请日 ：
2020-01-20
授权号 ：
CN111487034B
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
村上太一
申请人 ：
安立股份有限公司
申请人地址 ：
日本神奈川县
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
李芳华
优先权 ：
CN202010065935.3
主分类号 ：
G01M11/00
IPC分类号 ：
G01M11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2022-04-05 ：
授权
2020-08-28 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/00
申请日 : 20200120
申请日 : 20200120
2020-08-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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