液晶显示面板接合点的接触阻抗测量方法及液晶显示面板
授权
摘要

本申请实施例提供了一种液晶显示面板接合点的接触阻抗测量方法及液晶显示面板,用导电线将终端阵列的至少两个终端阵列点依次串联形成串联线路,导电线在与各个终端阵列点的接合处形成接合点;用四条连接导线中的两条第一连接导线分别将任意两个接合点与测试阵列中的两个测试阵列点连接,并测量这两个测试阵列点之间的第一阻抗值;四条连接导线中的另外两条第二连接导线的一端也分别与测试阵列中的另外两个测试阵列点连接且另一端彼此相连,并测量另外两个测试阵列点之间的第二阻抗值,由于两条第一连接导线的阻抗之和等于两条第二连接导线的阻抗之和,因此可通过第一阻抗值与第二阻抗值之差准确获得串联线路内的任意两个接合点之间的接触阻抗。

基本信息
专利标题 :
液晶显示面板接合点的接触阻抗测量方法及液晶显示面板
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111308209A
申请号 :
CN202010173448.9
公开(公告)日 :
2020-06-19
申请日 :
2020-03-13
授权号 :
CN111308209B
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
刘林峰
申请人 :
深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号
代理机构 :
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 :
唐秀萍
优先权 :
CN202010173448.9
主分类号 :
G01R27/02
IPC分类号 :
G01R27/02  G09G3/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2022-04-08 :
授权
2020-07-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 27/02
申请日 : 20200313
2020-06-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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