基于光学分度头的测斜仪校准装置及校准方法
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摘要
本发明公开了一种基于光学分度头的测斜仪校准装置及校准方法,包括工作平台、设置于所述工作平台的光学分度头以及安装于所述光学分度头的旋转主轴的测斜仪装夹定位装置,所述测斜仪装夹定位装置包括安装于所述旋转主轴的安装板以及设置于所述安装板的上部的上测斜管和设置于所述安装板的下部的下测斜管,所述上测斜管和下测斜管各自包括相同的管体,所述管体的内侧表面上沿所述管体的圆周方向以90°依次间隔设置有用于固定被校准测斜仪的第一定位槽、第二定位槽、第三定位槽和第四定位槽。该校准装置旨在解决现有技术中的测斜仪校准装置误差大、结构复杂、操作繁琐且无法反应测斜仪的实际使用状态的技术问题。
基本信息
专利标题 :
基于光学分度头的测斜仪校准装置及校准方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111322986A
申请号 :
CN202010198751.4
公开(公告)日 :
2020-06-23
申请日 :
2020-03-20
授权号 :
CN111322986B
授权日 :
2022-05-31
发明人 :
张拥军杨璐陈勇李婷陈静
申请人 :
湖南省计量检测研究院
申请人地址 :
湖南省长沙市雨花区香樟路396号
代理机构 :
长沙智路知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
杨毅宇
优先权 :
CN202010198751.4
主分类号 :
G01C9/00
IPC分类号 :
G01C9/00 G01C25/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01C
测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
G01C9/00
测量倾斜度,例如应用倾斜仪,应用水准器
法律状态
2022-05-31 :
授权
2020-07-17 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01C 9/00
申请日 : 20200320
申请日 : 20200320
2020-06-23 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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