适用于信号分析仪平台的实现多制式信号发射质量测量控制的方...
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摘要
本发明涉及一种适用于信号分析仪平台的实现多制式信号发射质量测量控制的方法，包括以下步骤：判断信号中是否包含TDMA信号；将平均后的信号数据映射到频域，通过不同制式信号带宽不同的特性对信号种类进行粗判定；借助同步信号的相关性对信号种类进行细判定；根据信号种类判定结果分别进行对应的帧同步；进行信号质量测量。本发明采用软硬件联合处理的形式，借助时分复用信号的时域特性、不同制式信号带宽存在差异性的特点以及各制式同步信号都具有良好自相关性的特点，分级处理实现了多制式信号的甄别并进行了相应的发射质量测量。
基本信息
专利标题 ：
适用于信号分析仪平台的实现多制式信号发射质量测量控制的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111464245A
申请号 ：
CN202010238387.X
公开（公告）日 ：
2020-07-28
申请日 ：
2020-03-30
授权号 ：
CN111464245B
授权日 ：
2022-05-20
发明人 ：
徐林
申请人 ：
上海创远仪器技术股份有限公司
申请人地址 ：
上海市松江区泗泾镇泗砖路351号6幢
代理机构 ：
上海智信专利代理有限公司
代理人 ：
王洁
优先权 ：
CN202010238387.X
主分类号 ：
H04B17/10
IPC分类号 ：
H04B17/10 H04L27/26
法律状态
2022-05-20 ：
授权
2020-08-21 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 17/10
申请日 : 20200330
申请日 : 20200330
2020-07-28 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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