一种基于深度神经网络和辐射数据补偿的天线阵列故障诊断方法
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摘要

本发明公开了一种基于深度神经网络和辐射数据补偿的天线阵列故障诊断方法,属于天线信号处理,故障识别领域。本发明首先在天线应用前的训练阶段,在远场区域的多个测量点上,利用探头测量阵列在多种故障场景下的辐射数据,然后将测得的数据作为神经网络的输入,将失效阵元的个数和位置分别作为输出,训练两个神经网络;其次是应用阶段,在与训练阶段相同的采样点上对待诊断阵列的远场辐射数据进行测量,然后将该测试数据输入到已训练好的神经网络中,初步确定最有可能失效的阵元位置,再利用辐射补偿的方法逐步确定所有可能失效阵元的位置。该算法通过数据补偿的方法有效减少了训练阶段需要采集的样本数据,适用于较大规模的阵列故障诊断。

基本信息
专利标题 :
一种基于深度神经网络和辐射数据补偿的天线阵列故障诊断方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111523568A
申请号 :
CN202010259285.6
公开(公告)日 :
2020-08-11
申请日 :
2020-04-03
授权号 :
CN111523568B
授权日 :
2022-05-03
发明人 :
张瑛李贞莹果威多周代英冯健
申请人 :
电子科技大学
申请人地址 :
四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
代理机构 :
电子科技大学专利中心
代理人 :
陈一鑫
优先权 :
CN202010259285.6
主分类号 :
G06K9/62
IPC分类号 :
G06K9/62  G06N3/04  G06N3/08  G01R29/10  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06K
数据识别;数据表示;记录载体;记录载体的处理
G06K9/00
用于阅读或识别印刷或书写字符或者用于识别图形,例如,指纹的方法或装置
G06K9/62
应用电子设备进行识别的方法或装置
法律状态
2022-05-03 :
授权
2020-09-04 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06K 9/62
申请日 : 20200403
2020-08-11 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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