一种集成微色散透镜阵列面板和并行彩色共聚焦测量系统
授权
摘要
本发明涉及一种集成微色散透镜阵列面板和并行彩色共聚焦测量系统。该集成微色散透镜阵列面板包括：基片和微色散透镜阵列，所述微色散透镜阵列布设在所述基片上，所述微色散透镜阵列用于对复色光源发出的光进行分束和并行色散，所述基片用于固定所述微色散透镜阵列。本发明能够实现多点并行测量，提高测量效率和精度。
基本信息
专利标题 ：
一种集成微色散透镜阵列面板和并行彩色共聚焦测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111487038A
申请号 ：
CN202010328182.0
公开（公告）日 ：
2020-08-04
申请日 ：
2020-04-23
授权号 ：
CN111487038B
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
余卿张雅丽程方王寅张一尚文键邹景武周东方张昆
申请人 ：
华侨大学
申请人地址 ：
福建省泉州市丰泽区城华北路269号
代理机构 ：
北京高沃律师事务所
代理人 ：
刘凤玲
优先权 ：
CN202010328182.0
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G01B11/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-04-08 ：
授权
2020-08-28 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20200423
申请日 : 20200423
2020-08-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
