基于阵列波束扫描的相控阵天线初始幅度和相位检测方法
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摘要
一种基于阵列波束扫描的相控阵天线初始幅度和相位检测方法，其能够对毫米波相控阵天线做到黑盒测试，并且校准效率高。检测装置包括：待测相控阵天线、探头天线、参数测量装置、直流电源、控制计算器，待测相控阵天线、探头天线、参数测量装置放在暗室中，直流电源、控制计算器在暗室外，探头天线置于相控阵天线正前方，参数测量装置连接待测相控阵天线和探头天线，直流电源为待测相控阵天线供电，控制计算器与待测相控阵天线连接；以参数测量装置为核心，对整个阵列进行波束赋形，测量在特定波束下的传输S参数，并获得相控阵校准所要求的校准矩阵C。
基本信息
专利标题 ：
基于阵列波束扫描的相控阵天线初始幅度和相位检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111641464A
申请号 ：
CN202010372924.X
公开（公告）日 ：
2020-09-08
申请日 ：
2020-05-06
授权号 ：
CN111641464B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
王鹏陈海波
申请人 ：
北京中测国宇科技有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区知春路27号量子芯座20层2012
代理机构 ：
北京市中闻律师事务所
代理人 ：
冯梦洪
优先权 ：
CN202010372924.X
主分类号 ：
H04B17/12
IPC分类号 ：
H04B17/12 H04B17/21 G01R29/10
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2020-10-02 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 17/12
申请日 : 20200506
申请日 : 20200506
2020-09-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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