一种检测阵列天线中的失配天线单元的方法
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摘要
本发明提供了一种检测阵列天线中的失配天线单元的方法，包括：S1：将被测阵列天线面向收发天线对倾斜放置在转台上；S2：控制矢量网络分析仪产生频率步进变化的电磁波信号，所述电磁波信号经由发射天线发射并在自由空间中传播，遇到所述被测阵列天线后产生散射回波；S3：所述散射回波在自由空间中传播后返回接收天线，被所述矢量网络分析仪采集并记录；S4：控制所述转台旋转到下一角度，重复进行步骤S2‑S4，直到所述转台旋转到预设角度；S5：对采集的多个角度的散射回波数据进行二维散射成像处理；S6：根据被测阵列天线的二维散射像确定所述被测阵列天线中的失配天线单元。本发明采用微波暗室测量系统检测失配天线单元，检测方法简单，省时省力。
基本信息
专利标题 ：
一种检测阵列天线中的失配天线单元的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111505391A
申请号 ：
CN202010384178.6
公开（公告）日 ：
2020-08-07
申请日 ：
2020-05-09
授权号 ：
CN111505391B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
洪韬郑书利赵京城陈航宇方林全钞旭洪昊晖
申请人 ：
北京航空航天大学云南创新研究院;北京航空航天大学;北京昊测科技有限公司
申请人地址 ：
云南省昆明市盘龙区世博路8号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202010384178.6
主分类号 ：
G01R29/08
IPC分类号 ：
G01R29/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
法律状态
2022-05-31 ：
授权
2020-09-01 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 29/08
申请日 : 20200509
申请日 : 20200509
2020-08-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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