基于深度学习的高速单图直接探测光学畸变相位的方法
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摘要

本发明公开了一种基于深度学习的高速单图直接探测光学畸变相位的方法。利用计算机生成随机的光学畸变相位集合;将相位畸变集合依次加载到空间光调制器后,在波前传感器处得到畸变光斑点阵图样集合;将相位畸变集合与光斑点阵图样集合输入卷积神经网络的深度学习模型中训练,获得模型结果;针对待测光学畸变相位,在波前传感器处获取单张畸变光斑点阵图样;将畸变光斑点阵图样输入经训练的预测模型可直接输出预测的光学畸变相位。本发明简化了光学畸变相位的直接波前探测的算法流程,提升了探测速度与探测性能,在使用直接波前探测的领域具有应用前景。

基本信息
专利标题 :
基于深度学习的高速单图直接探测光学畸变相位的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111626997A
申请号 :
CN202010435457.0
公开(公告)日 :
2020-09-04
申请日 :
2020-05-21
授权号 :
CN111626997B
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
斯科龚薇胡乐佳胡淑文
申请人 :
浙江大学
申请人地址 :
浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
代理机构 :
杭州求是专利事务所有限公司
代理人 :
林超
优先权 :
CN202010435457.0
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06N3/04  G06N3/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-19 :
授权
2020-09-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20200521
2020-09-04 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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