一种变偏移距VSP弯线校正处理方法和装置
授权
摘要
本发明公开了一种变偏移距VSP弯线校正处理方法和装置，所述方法包括以下步骤：S1.选取变偏移距VSP数据中的零偏移距VSP数据，拾取其初至，用其计算层速度；S2.利用步骤S1得到层速度，射线追踪计算双程时，并对变偏移距VSP共炮记录做动校正；S3.假定一条过井口的直线，计算炮点到该直线的投影坐标，将投影坐标定义为炮点的新坐标；S4.利用步骤S3得到的炮点新坐标、步骤S1得到的层速度，射线追踪计算双程时，并对步骤S2的变偏移距VSP共炮动校正记录做反动校正。本发明能够快速的将VSP弯线数据处理成直线数据，便于后续叠加及偏移成像。
基本信息
专利标题 ：
一种变偏移距VSP弯线校正处理方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111650645A
申请号 ：
CN202010548726.4
公开（公告）日 ：
2020-09-11
申请日 ：
2020-06-16
授权号 ：
CN111650645B
授权日 ：
2022-05-20
发明人 ：
李建国吴俊军王熙明夏淑君余刚
申请人 ：
中油奥博（成都）科技有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区天全路200号2号楼7层704号
代理机构 ：
成都方圆聿联专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李鹏
优先权 ：
CN202010548726.4
主分类号 ：
G01V1/40
IPC分类号 ：
G01V1/40 G01V1/30 G01V1/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V1/00
地震学；地震或声学的勘探或探测
G01V1/40
专用于测井记录
法律状态
2022-05-20 ：
授权
2020-10-13 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01V 1/40
申请日 : 20200616
申请日 : 20200616
2020-09-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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