超低轨阻力系数的测定方法、装置、设备及存储介质

授权

摘要

本申请公开了一种超低轨阻力系数的测定方法、装置、设备及存储介质，首先基于获得的与测量平面呈预设入射角的来流大气的气动力，计算预设速度下所述来流大气的阻力系数；其次基于不同来流速度下的阻力系数的表达式以及预设速度下来流大气对测量平面的阻力系数计算不同来流速度下的阻力系数。测量平面受预设速度下来流大气的阻力系数测量方便简单，通过公式的推广，可以方便得到试验条件所不能达到的来流速度条件下的阻力系数，进而很容易便可获取飞行器实际受到的超低轨大气阻力。

基本信息

专利标题：

超低轨阻力系数的测定方法、装置、设备及存储介质

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111595549A

申请号：

CN202010559743.8

公开（公告）日：

2020-08-28

申请日：

2020-06-18

授权号：

CN111595549B

授权日：

2022-04-22

发明人：

李涛姜利祥商圣飞焦子龙郑慧奇唐振宇向树红

申请人：

北京卫星环境工程研究所

申请人地址：

北京市海淀区友谊路104号

代理机构：

北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

成丹

优先权：

CN202010559743.8

主分类号：

G01M9/08

IPC分类号：

G01M9/08 G01M9/06