一种用于扫描电镜观察陶瓷内部微观结构的制样方法
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摘要
本发明涉及一种用于扫描电镜观察陶瓷内部微观结构的制样方法，将具有亚微米级晶粒的陶瓷样品折断后得到新鲜断面，再经热腐蚀或酸腐蚀，得到待观察的陶瓷材料；所述具有亚微米级晶粒的陶瓷样品的断裂方式为完全穿晶断裂或部分穿晶断裂。
基本信息
专利标题 ：
一种用于扫描电镜观察陶瓷内部微观结构的制样方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111795984A
申请号 ：
CN202010573950.9
公开（公告）日 ：
2020-10-20
申请日 ：
2020-06-22
授权号 ：
CN111795984B
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
章健刘梦玮赵瑾岛井骏藏王士维陈晗陈鹤拓
申请人 ：
中国科学院上海硅酸盐研究所
申请人地址 ：
上海市长宁区定西路1295号
代理机构 ：
上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
曹芳玲
优先权 ：
CN202010573950.9
主分类号 ：
G01N23/2202
IPC分类号 ：
G01N23/2202
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2202
样品制备
法律状态
2022-05-10 ：
授权
2020-11-06 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/2202
申请日 : 20200622
申请日 : 20200622
2020-10-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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