阵列准直激光参量检测装置
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摘要

本发明提供了一种阵列准直激光参量检测装置,该装置包括:第一分光器,用于对阵列激光束进行分束,得到第一激光束和第二激光束;第二分光器,用于对第二激光束进行分束,得到第三激光束和第四激光束;第三分光器,用于对第四激光束分束,得到第五激光束和第六激光束;偏振调节器,用于对第六激光束的偏振方向调节;第四分光器,用于对调节后的第六激光束进行分束,得到第七激光束和第八激光束;第一检测支路、第二检测支路及第三检测支路,用于接收第一激光束、第三激光束及第五激光束中的激光束;第四检测支路和第五检测支路,用于各接收第七激光束和第八激光束中的激光束。通过上述方案,能够达到对阵列激光的各个组成单元进行协同控制的目的。

基本信息
专利标题 :
阵列准直激光参量检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111693257A
申请号 :
CN202010589061.1
公开(公告)日 :
2020-09-22
申请日 :
2020-06-24
授权号 :
CN111693257B
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
孙鑫鹏史俊锋李晔杨振李川张志强杨宁王旭鹏段京丰李朝阳尹聿海李松柏陈园园韩松臧彦楠雷婕妤
申请人 :
中国兵器装备研究院
申请人地址 :
北京市昌平区北七家七北路7号
代理机构 :
北京金咨知识产权代理有限公司
代理人 :
秦景芳
优先权 :
CN202010589061.1
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-05-27 :
授权
2020-10-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20200624
2020-09-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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