一种受介质及挥发影响的标准金属量器标定结果补偿方法
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摘要
本发明公开了一种受介质及挥发影响的标准金属量器标定结果补偿方法，包括以“水”为介质，对三等标准金属量器进行标定，得到三等标称容量的刻度位置h1，并计量颈分度容积为μ；以待计量物质为介质，对三等标准金属量器进行标定，得到标称容量的刻度位置h2，待计量物质从二等标准金属量器开始转移到在三等标准金属量器读数完成持续的时间为t2，待计量物质密度为ρ2；测定待计量物质的挥发率为ζ2；测量二等标准金属量器计量颈部位的内径为D1，三等标准金属量器计量颈部位的内径为D2；计算在实际使用中的三等标准金属量器，以待计量物质为介质时的标称容量刻度位置补偿后的结果为h′2。
基本信息
专利标题 ：
一种受介质及挥发影响的标准金属量器标定结果补偿方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111879379A
申请号 ：
CN202010720668.9
公开（公告）日 ：
2020-11-03
申请日 ：
2020-07-24
授权号 ：
CN111879379B
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
陈国宇张强刘宜仔陈房勇陈立玲
申请人 ：
广州能源检测研究院
申请人地址 ：
广东省广州市番禺区石楼珠江路1-2号
代理机构 ：
北京天奇智新知识产权代理有限公司
代理人 ：
王泽云
优先权 ：
CN202010720668.9
主分类号 ：
G01F25/00
IPC分类号 ：
G01F25/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01F
容积、流量、质量流量或液位的测量；按容积进行测量
G01F25/00
用于测量容量、流量、液面或借助容积进行计量的仪表设备的检定或校正
法律状态
2022-04-08 ：
授权
2020-11-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01F 25/00
申请日 : 20200724
申请日 : 20200724
2020-11-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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