弹性波层析成像波速反演计算方法
授权
摘要
本发明涉及一种弹性波层析成像波速反演计算方法。本发明的目的是提供一种弹性波层析成像波速反演计算方法。本发明的技术方案是：一种弹性波层析成像波速反演计算方法，其特征在于：将已知波速{VR}的离散单元R作为约束条件；对直射线经过的、单元波速未知的离散单元BPT的波速{VB}，采用反投影技术法进行单元波速的反演计算；对折线射线经过的、单元波速未知的离散单元DT的{VDT}，采用阻尼最小二乘法进行单元波速的反演计算；再对直射线和折线射线均未经过的离散单元KDB的波速{VKDB}，用克里金插值法进行单元波速的插值计算本发明适用于地球物理、检验检测技术领域。
基本信息
专利标题 ：
弹性波层析成像波速反演计算方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112099084A
申请号 ：
CN202010941185.1
公开（公告）日 ：
2020-12-18
申请日 ：
2020-09-09
授权号 ：
CN112099084B
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
陈文华李涛王飞曾超
申请人 ：
杭州国家水电站大坝安全和应急工程技术中心有限公司;中国电建集团华东勘测设计研究院有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市余杭区闲林街道高教路201号1幢14层
代理机构 ：
杭州九洲专利事务所有限公司
代理人 ：
韩小燕
优先权 ：
CN202010941185.1
主分类号 ：
G01V1/30
IPC分类号 ：
G01V1/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V1/00
地震学；地震或声学的勘探或探测
G01V1/28
地震数据的处理，例如，分析、用于解释、用于校正
G01V1/30
分析
法律状态
2022-05-10 ：
授权
2021-01-05 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01V 1/30
申请日 : 20200909
申请日 : 20200909
2020-12-18 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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