本申请提供一种参数设置方法、装置、系统以及存储介质，获取多个存储器参数的第一设置数值和多个存储器参数在非易失性存储器中的存储位置，根据每个存储器参数的第一设置数值和存储位置，生成第一参数设置指令，发送第一参数设置指令至测试设备，以使测试设备设置非易失性存储器中位于存储位置的所存储的存储器参数为第一设置数值。本方案通过获取存储器参数的存储位置，可以实现通过上位机设置测试设备的非易失性存储器中所存储的存储器参数，无需通过BIOS程序界面设置，可以一次设置多个存储器参数，提高参数设置效率。