一种提高NTC温度采样精度的电路及其方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种提高NTC温度采样精度的电路及其方法,属于电子产品中的温度测量方法,包括:基准电压VCC端;MCU控制开关电器件,MCU控制开关电器件包括三个并联的第一开关S1、第二开关S2和第三开关S3,基准电压VCC端分别与第一开关S1、第二开关S2和第三开关S3的输入端连接;电阻机构,电阻机构包括三个并联的第一常规电阻R1、第二常规电阻R2和第三常规电阻R3,第一开关S1、第二开关S2和第三开关S3的输出端分别第一常规电阻R1、第二常规电阻R2和第三常规电阻R3的输入端连接。本发明实际通过优化可实现全温度范围内热敏电阻NTC采样温度精度达±1℃,传统方法仅能达到±3℃,对温度有更高的采集精度。

基本信息
专利标题 :
一种提高NTC温度采样精度的电路及其方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114370948A
申请号 :
CN202011096483.1
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2020-10-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张许峰
申请人 :
福州市瓦涵新能源科技有限公司
申请人地址 :
福建省福州市闽侯县南通镇陈厝村
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202011096483.1
主分类号 :
G01K7/22
IPC分类号 :
G01K7/22  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01K
温度测量;热量测量;未列入其他类目的热敏元件
G01K7/08
被测物体本身构成热电材料之一,例如,尖端型的
G01K7/16
利用电阻元件
G01K7/22
元件为非线性电阻,例如,热敏电阻
法律状态
2022-05-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01K 7/22
申请日 : 20201014
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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