一种非晶带材的检测装置及方法
公开
摘要
本发明涉及一种非晶带材的检测装置及方法，所述检测装置具备：磁轭，其具有与所述非晶带材接触的接触部；磁化部，其缠绕在所述磁轭上，对所述非晶带材施加磁场；以及检测部，其被设置于靠近所述非晶带材的表面的位置，并检测所述磁场中的所述非晶带材的磁场强度。根据本发明，由于在磁轭上卷绕磁化部，并通过磁轭上的接触部与非晶带材接触而对非晶带材施加磁场，因此，不需要制备检测用的非晶带材，能够节省检测用的时间以及成本，还能够在实际生产中实现全面检测非晶带材的质量，能够用于非晶带材磁性能的在线快速检测。
基本信息
专利标题 ：
一种非晶带材的检测装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114371433A
申请号 ：
CN202011097654.2
公开（公告）日 ：
2022-04-19
申请日 ：
2020-10-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
夏满龙董强
申请人 ：
株式会社日立制作所
申请人地址 ：
日本国东京都千代田区丸之内一丁目6番6号
代理机构 ：
上海华诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
肖华
优先权 ：
CN202011097654.2
主分类号 ：
G01R33/12
IPC分类号 ：
G01R33/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/12
测量物品的磁性或者固体或流体样品的磁性
法律状态
2022-04-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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