差分探头及其控制方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开一种差分探头及其控制方法,所述差分探头包括探头主体、第一触点元件、第二触点元件和驱动机构。探头主体包括壳体,壳体具有收容腔;第一触点元件包括第一触点和第一转轴,第一触点元件围绕第一转轴可转动地设置于探头主体,第一触点与第一转轴偏心分布,且在第一方向上围绕第一转轴转动;第二触点元件包括第二触点和第二转轴,第二触点元件围绕第二转轴可转动地设置于探头主体,第二触点与第二转轴偏心分布,且在第二方向上围绕第二转轴转动;其中,第一方向与第二方向反向,第一触点和第二触点之间形成探测区域。上述方案能够解决目前的差分探头无法准确调节探针间距的问题。

基本信息
专利标题 :
差分探头及其控制方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114371350A
申请号 :
CN202011102519.2
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2020-10-15
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
邓仁辉王悦王丽明马青峰任宏亮
申请人 :
普源精电科技股份有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市高新区科灵路8号
代理机构 :
北京国昊天诚知识产权代理有限公司
代理人 :
施敬勃
优先权 :
CN202011102519.2
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-05-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20201015
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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