一种确定支柱绝缘子和盘式绝缘子密度分布的仿真方法
授权
摘要
本发明公开了一种确定支柱绝缘子和盘式绝缘子密度分布的仿真方法：分别确定支柱绝缘子和盘式绝缘子的几何尺寸；对支柱绝缘子和盘式绝缘子分别进行有限元网格剖分：对支柱绝缘子进行一维剖分单元格，对盘式绝缘子进行二维剖分单元格；确定仿真起始条件；分别计算支柱绝缘子和盘式绝缘子时间t时刻的颗粒运动速度；分别计算支柱绝缘子和盘式绝缘子每个单元格的流入和流出；分别计算支柱绝缘子和盘式绝缘子每个单元格的氧化铝浓度；如果时间达到70分钟，则停止计算，并依据单元格内氧化铝的浓度折算出绝缘子密度；否则，将时间增加为t+dt，重复上述步骤。本发明是获取绝缘子密度分布的经济有效手段。
基本信息
专利标题 ：
一种确定支柱绝缘子和盘式绝缘子密度分布的仿真方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112380672A
申请号 ：
CN202011132923.4
公开（公告）日 ：
2021-02-19
申请日 ：
2020-10-21
授权号 ：
CN112380672B
授权日 ：
2022-06-03
发明人 ：
梁虎成杜伯学李进王泽华张程冉昭玉
申请人 ：
天津大学
申请人地址 ：
天津市南开区卫津路92号
代理机构 ：
天津市北洋有限责任专利代理事务所
代理人 ：
吴学颖
优先权 ：
CN202011132923.4
主分类号 ：
G06F30/20
IPC分类号 ：
G06F30/20 G06F119/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/20
设计优化、验证或模拟
法律状态
2022-06-03 ：
授权
2021-03-09 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/20
申请日 : 20201021
申请日 : 20201021
2021-02-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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