大米加工精度的检测方法、设备以及存储介质
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种大米加工精度的检测方法、设备以及存储介质。其中，大米加工精度的检测方法包括：采集米粒在至少三个角度的图像，并将至少三个角度的图像记为第一图像；对第一图像进行预处理，得到第二图像；根据第一图像和第二图像计算米粒的加工精度。该大米加工精度的检测方法，基于米粒的多角度图像，对米粒表面特征进行检测，确定大米加工精度，检测准确率高，可降低人工成本，提高大米产线的生产效率。
基本信息
专利标题 ：
大米加工精度的检测方法、设备以及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114494099A
申请号 ：
CN202011147481.0
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2020-10-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
朱邵成范二荣
申请人 ：
合肥美亚光电技术股份有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市高新技术产业开发区望江西路668号
代理机构 ：
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
周红
优先权 ：
CN202011147481.0
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T7/136 G06T7/187 G06T7/62 G06T7/90 G01N21/85
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20201023
申请日 : 20201023
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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