本公开是关于一种产品不良预测方法及装置、电子设备、存储介质、存储介质。该方法包括：获取目标设备的每个设备参数在预设时长内的参数数据；所述参数数据是指产品在经过目标设备阶段之内按照预设间隔记录的每个设备参数的数值；根据所述参数数据获取表征所述目标设备特征的融合特征；将所述融合特征输入到预设的预测模型，获得所述预测模型输出的表征所述产品是否异常的推测结果。本实施例可以预测生产过程中是否会生产出异常的产品，以使管理人员提前对目标设备进行调整，提升生产良率。