一种CMOS图像传感器成像畸变的校正方法
公开
摘要
本发明公开了一种CMOS图像传感器成像畸变的校正方法,通过构建图像的畸变校正模型,采用物理校正和算法校正两个校正步骤,校正芯片内部设有畸变校正模型,通过畸变校正模型进行算法优化和数字机芯的参数处理,能够优化匹配更多的数字机芯,同时设置合理的畸变率区间,通过校正芯片单元进行智能计算获取准确的畸变率分布参数,根据校正后图像的实际效果反馈,不断的精确畸变率分布参数,从而获得更好的畸变率校正效果,运算简单,能够快速对原始图像进行运算处理获得很好的校正效果,且适用于各种规格的镜头和摄像设备,可以优化各种各样镜头产生的畸变,基于各规格设备参数的记忆存储,能够快速识别和读取存储数据。
基本信息
专利标题 :
一种CMOS图像传感器成像畸变的校正方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114429425A
申请号 :
CN202011176803.4
公开(公告)日 :
2022-05-03
申请日 :
2020-10-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
徐春锋
申请人 :
杭州赛德视科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市余杭区仓前街道欧美金融城5幢609室
代理机构 :
北京恒和顿知识产权代理有限公司
代理人 :
沈杨
优先权 :
CN202011176803.4
主分类号 :
G06T5/00
IPC分类号 :
G06T5/00 H04N5/374
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T5/00
图像的增强或复原
法律状态
2022-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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