检测电路、显示面板及检测方法

授权

摘要

本申请提供一种检测电路、显示面板及检测方法，该检测电路包括：多个薄膜晶体管；第一金属线，该第一金属线与所有的薄膜晶体管连接；多条第二金属线，每一条第二金属线与一个薄膜晶体管连接；第三金属线，该第三金属线与所有的第二金属线连接，第二金属线的延展性小于第一金属线和第三金属线的延展性，本申请所提供的检测电路可提高对显示屏是否碎裂进行检测的精准度。

基本信息

专利标题：

检测电路、显示面板及检测方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN112419946A

申请号：

CN202011239560.4

公开（公告）日：

2021-02-26

申请日：

2020-11-09

授权号：

CN112419946B

授权日：

2022-06-10

发明人：

张家朝杲皓冉

申请人：

武汉华星光电半导体显示技术有限公司

申请人地址：

湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道666号光谷生物创新园C5栋305室

代理机构：

深圳紫藤知识产权代理有限公司

代理人：

李新干

优先权：

CN202011239560.4

主分类号：

G09G3/00

IPC分类号：

G09G3/00 G06F11/22