物体表面平整度的检测方法、装置、电子装置和存储介质
授权
摘要
本申请涉及一种物体表面平整度的检测方法、装置、电子装置和存储介质,其中,该物体表面平整度的检测方法包括:获取待测物体所在场景的三维点云,并提取三维点云中的待测物点云,根据待测物点云获取待测物体的待测面的深度图,根据深度图,计算深度图中每个点的点云信息、深度图中每个点的临近点高度以及深度图的外接图形,根据深度图、每个点的点云信息、每个点的临近点高度以及外接图形,计算待测面的图形特征值以及均匀度,根据图形特征值和均匀度,获取待测面的平整度。通过本申请,解决了相关技术中通过实际空间与像素的映射关系对物体进行测量,通用性较低的问题,提高了物体表面平整度检测的场景适用性。
基本信息
专利标题 :
物体表面平整度的检测方法、装置、电子装置和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112414326A
申请号 :
CN202011246673.7
公开(公告)日 :
2021-02-26
申请日 :
2020-11-10
授权号 :
CN112414326B
授权日 :
2022-05-20
发明人 :
周云柯刘羽周璐
申请人 :
浙江华睿科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市滨江区滨安路1199号C10
代理机构 :
杭州华进联浙知识产权代理有限公司
代理人 :
贺才杰
优先权 :
CN202011246673.7
主分类号 :
G01B11/30
IPC分类号 :
G01B11/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/275
••用于检测轮子准直度
G01B11/30
用于计量表面的粗糙度和不规则性
法律状态
2022-05-20 :
授权
2021-08-06 :
著录事项变更
IPC(主分类) : G01B 11/30
变更事项 : 申请人
变更前 : 浙江华睿科技有限公司
变更后 : 浙江华睿科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 310051 浙江省杭州市滨江区滨安路1199号C10
变更后 : 310051 浙江省杭州市滨江区滨安路1181号A幢8层
变更事项 : 申请人
变更前 : 浙江华睿科技有限公司
变更后 : 浙江华睿科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 310051 浙江省杭州市滨江区滨安路1199号C10
变更后 : 310051 浙江省杭州市滨江区滨安路1181号A幢8层
2021-03-16 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/30
申请日 : 20201110
申请日 : 20201110
2021-02-26 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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