泄漏源检测
授权
摘要
本申请涉及泄漏源检测。在一些情况下，测试装置可以扫描存储器管芯的具有第一长度的第一组存取线和存储器管芯的具有与第一长度不同的第二长度的第二组存取线。测试装置可以确定与第一组存取线相关联的第一错误率和与第二组存取线相关联的第二错误率。测试装置可以基于第一错误率和第二错误率来对存储器管芯的性能进行分类。在一些情况下，测试装置可以基于第一和第二错误率来确定与错误的类型相关联的第三错误率，并且可以基于第三错误率来对存储器管芯的性能进行分类。
基本信息
专利标题 ：
泄漏源检测
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112802533A
申请号 ：
CN202011268119.9
公开（公告）日 ：
2021-05-14
申请日 ：
2020-11-13
授权号 ：
CN112802533B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
A·马宗达R·科蒂P·D·怀特P·R·K·埃尔拉R·卡马纳
申请人 ：
美光科技公司
申请人地址 ：
美国爱达荷州
代理机构 ：
北京律盟知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
王龙
优先权 ：
CN202011268119.9
主分类号 ：
G11C29/44
IPC分类号 ：
G11C29/44 G11C29/12 G06K9/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置
G11C29/44
错误指示或识别，例如，修复
法律状态
2022-05-31 ：
授权
2021-06-01 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/44
申请日 : 20201113
申请日 : 20201113
2021-05-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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