一种AMOLED显示面板的亮点修复方法以及AMOLED显...
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种AMOLED显示面板的亮点修复方法以及AMOLED显示面板，所述修复方法为：确定亮点位置，采用激光设备对亮点处对应的AMOLED的阴极层进行激光切割，仅使阴极层破坏，使像素点对应的阴极区域隔离开，使亮点变成暗点。本发明所述修复方法仅把AMOLED的阴极层破坏，不影响其他层别，避免额外的不良产生。
基本信息
专利标题 ：
一种AMOLED显示面板的亮点修复方法以及AMOLED显示面板
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114497412A
申请号 ：
CN202011268288.2
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2020-11-13
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
于东亮
申请人 ：
上海和辉光电股份有限公司
申请人地址 ：
上海市金山区九工路1568号
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
巩克栋
优先权 ：
CN202011268288.2
主分类号 ：
H01L51/52
IPC分类号 ：
H01L51/52 H01L27/32 H01L21/768
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 51/52
申请日 : 20201113
申请日 : 20201113
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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