位置检测系统、镜头、变焦方法及终端
公开
摘要
本申请公开一种位置检测系统、镜头、变焦方法及终端，包括：用于设置在镜头载体上的磁铁，以及霍尔传感器；所述磁铁为长方体，所述磁铁的厚度方向为由磁铁的一极指向另一极的方向，所述磁铁的长度方向为与所述厚度方向垂直的方向；所述霍尔传感器设置在所述磁铁外，用于采集所述磁铁沿与所述长度方向呈第一夹角的方向平移时的磁感应强度变化，以检测所述镜头载体的位置。通过将磁铁沿与长度方向呈一定的角度进行平移，增大了磁铁平移过程中霍尔传感器位置的磁感应强度均匀的行程范围，有效增加了磁感应强度相对磁铁行程的线性变化区间，提高了对镜头载体位置检测的精度。
基本信息
专利标题 ：
位置检测系统、镜头、变焦方法及终端
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114577099A
申请号 ：
CN202011280550.5
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2020-11-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王志刘伟
申请人 ：
深圳市万普拉斯科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室
代理机构 ：
深圳市嘉勤知识产权代理有限公司
代理人 ：
王敏生
优先权 ：
CN202011280550.5
主分类号 ：
G01B7/00
IPC分类号 ：
G01B7/00 G02B7/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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