一种电阻率测深数据处理解释与绘图方法
实质审查的生效
摘要
本发明专利属于电阻率测深解释领域，具体公开一种电阻率测深的解释及绘图方法，该方法如下：整理及准备数据；绘制电阻率曲线；根据电阻率曲线形态判断其类型；根据电阻率曲线类型给定电性层电阻率及厚度；运行程序、计算T函数拟合误差；保存程序中的计算结果；根据计算结果绘制剖面等值线断面图；绘制地质断面图等。使用本方法进行电阻率测深数据解释和绘制图件，具有以下优点：1.操作简单、方便；2.通过T函数拟合，解释结果更接近于实际；3.该解释软件可为基层物探技术员的数据处理解释提供较多便利。本方法适用于电阻率测深法的数据解释成图，为野外生产提供较为有意义的指导。
基本信息
专利标题 ：
一种电阻率测深数据处理解释与绘图方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114518604A
申请号 ：
CN202011297849.1
公开（公告）日 ：
2022-05-20
申请日 ：
2020-11-19
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
于兵余弘龙高井明郭恒飞陈旭周舰
申请人 ：
中核（内蒙古）矿业投资有限公司
申请人地址 ：
内蒙古自治区赤峰市新城区玉龙大街中段75号
代理机构 ：
核工业专利中心
代理人 ：
刘昕宇
优先权 ：
CN202011297849.1
主分类号 ：
G01V3/38
IPC分类号 ：
G01V3/38 G01V3/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V3/00
电或磁的勘探或探测；；地磁场特性的测量；例如，磁偏角或磁偏差
G01V3/38
处理数据，例如，用于分析、用于解释或用于校正
法律状态
2022-06-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01V 3/38
申请日 : 20201119
申请日 : 20201119
2022-05-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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