金属高度测试装置
公开
摘要
本发明公开一种金属高度测试装置，包括底板，分别安装于所述底板的立柱和限位件，所述限位件包括安装于所述底板的横板和设置在所述横板上的至少多个限位柱；所述立柱上安装有侧板，所述侧板上分别安装有伸缩件和测量件，所述测量件把包括多个测量探针，所述测量探针与所述限位件一一对应。上述方案中，可以将金属工件防止在限位柱上，通过伸缩件驱动测量件下移以使得测量探针靠近金属工件，由于限位柱和测量探针的数量均为多个并且一一对应设置，因此可以同时测量多个金属件的高度。该金属高度测试装置具有测量效率高，测量准确的优点。
基本信息
专利标题 ：
金属高度测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114526659A
申请号 ：
CN202011315502.5
公开（公告）日 ：
2022-05-24
申请日 ：
2020-11-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
潘文五田卫王凯龙
申请人 ：
湘潭宏远电子科技有限公司
申请人地址 ：
湖南省湘潭市高新区晓塘路9号创新大厦909室
代理机构 ：
湖南乔熹知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
安曼
优先权 ：
CN202011315502.5
主分类号 ：
G01B5/02
IPC分类号 ：
G01B5/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-05-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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