一种激光目标模拟测量装置及测量方法
实质审查的生效
摘要

本文公开了一种激光目标模拟测量装置及测量方法,所述装置包括激光回波模拟源、激光测量探测器和控制系统;所述激光回波模拟源用于在所述控制系统的控制下发射预设功率的激光脉冲;所述激光测量探测器包括激光处理组件和激光参数测量组件;所述激光处理组件用于接收所述激光回波模拟源发射的激光脉冲,对所述激光脉冲进行汇聚处理,以形成汇聚光源;所述激光参数测量组件用于接收所述汇聚光源,进行光电信号转换获取电信号波形,将所述电信号波形发送给所述控制系统;所述控制系统用于接收所述激光参数测量组件发送的电信号波形,并基于量值溯源方法获得所述激光脉冲的参数,通过本发明能实现对激光脉冲参数的快速定量化测量。

基本信息
专利标题 :
一种激光目标模拟测量装置及测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114543599A
申请号 :
CN202011327193.3
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2020-11-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杜继东吴柯萱翟思婷魏树弟孙广尉张鑫邱超
申请人 :
北京振兴计量测试研究所
申请人地址 :
北京市丰台区云岗北区西里1号院30号楼
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202011327193.3
主分类号 :
F42B15/01
IPC分类号 :
F42B15/01  
IPC结构图谱
F
F部——机械工程;照明;加热;武器;爆破
F42
弹药;爆破
F42B
爆炸装药,例如用于爆破;烟火;弹药
F42B
爆炸装药,例如用于爆破;烟火;弹药
F42B15/00
自推进弹或发射物,例如火箭;导弹
F42B15/01
制导或控制装置
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : F42B 15/01
申请日 : 20201124
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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